高分辨Zeta電位分析儀的工作原理主要基于電泳動(dòng)力學(xué)原理。當(dāng)帶電顆粒在外加電場的作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)時(shí)，顆粒表面的電荷與電場相互作用，產(chǎn)生一個(gè)阻力，使得顆粒的遷移速度與電場強(qiáng)度成正比。這種運(yùn)動(dòng)會(huì)導(dǎo)致散射光產(chǎn)生頻率漂移，即多普勒頻移。
分析儀采用頻譜漂移分析技術(shù)，通過測量顆粒在電場中的遷移速度以及電場強(qiáng)度，從而計(jì)算出顆粒表面電荷的絕對(duì)值和電荷密度。這些信息進(jìn)而可以用來確定顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。
值得注意的是，Zeta電位是一個(gè)表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。它實(shí)際上是擴(kuò)散層的電位差，反映了粒子表面凈電荷的存在以及粒子周圍離子分布的情況。通過測量Zeta電位，我們可以了解分散體系中粒子的穩(wěn)定性和相互作用，這對(duì)于納米材料、高分子膠乳、蛋白質(zhì)和脂質(zhì)體研究，以及陶瓷、涂料、采礦、造紙業(yè)、水處理、化妝品和制藥業(yè)等行業(yè)都具有重要意義。
高分辨Zeta電位分析儀的特點(diǎn)在于其高分辨率和廣泛的測量范圍。它能夠測量液體介質(zhì)中粒子或大分子的多種特性，包括粒度、粒度分布、Zeta電位、PH值和電導(dǎo)率等。這使得它成為研究溶液中線度為納米、亞微米的顆粒以及懸浮液體系穩(wěn)定性的有力工具。
綜上所述，高分辨Zeta電位分析儀通過測量顆粒在電場中的遷移速度和電場強(qiáng)度，計(jì)算出顆粒表面電荷和Zeta電位，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)分散體系穩(wěn)定性的評(píng)估和監(jiān)測。
