ZetaPALS相位分析光散射原理（PALS）測(cè)ζ電位應(yīng)用案例10
文獻(xiàn)名：利用靜電聚苯乙烯納米微粒對(duì)LiNbO3鐵電疇結(jié)構(gòu)的觀測(cè)
作者：柯 常1 ,祁 鳴1 ,劉 宏2 ,王繼揚(yáng)2
（1. 南京大學(xué)固體微結(jié)構(gòu)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,南京210093; 2. 山東大學(xué)晶體材料國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,濟(jì)南250100）
摘要：利用靜電聚苯乙烯納米微粒綴飾技術(shù),在鐵電晶體鈮酸鋰(LiNbO3)的極性表面觀察到鐵電疇表面束縛電荷吸附帶異性電荷納米小球所形成的襯度圖像,正負(fù)電疇襯度圖像清晰穩(wěn)定。這種對(duì)鐵電晶體表面電疇結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征的新方法不會(huì)對(duì)樣品造成任何程度的損傷和破壞,操作簡(jiǎn)便易行,并具有較高的分辨率。
關(guān)鍵詞：帶電納米微粒綴飾技術(shù);鈮酸鋰晶體;鐵電疇結(jié)構(gòu);表面束縛電荷
